регистровая архитектура, допускающая обращение к регистрам как к байтам, словам и двойным словам;
24-разрядное линейное адресное пространство, обеспечивающее адресацию до 16 Мбайт памяти;
Основными характеристиками архитектуры MCS-51 являются:
родоначальницы этого семейства, направленная на широкое распространение лицензий на ядро MCS-51 среди большого количества ведущих полупроводниковых
Важную роль в достижении такой высокой популярности сыграла открытая политика фирмы Intel,
Среди всех 8-разрядных микроконтроллеров семейство MCS-51 является несомненным чемпионом по количеству компаний, выпускающих его модификации.
Ведущий микроконтроллер узла управления построен на базе семейства MCS-51.
устройства управления и обработки измеряемой информации, содержащего два микроконтроллера, электронные ключи, линию задержки, программируемый счетчик-делитель частоты.
регистрирующего устройства, включающего фотоприемник, компаратор, усилитель с регулируемым коэффициентом усиления, расширитель импульсов и аналого-цифровой преобразователь (АЦП);
формирователя оптических измерительных сигналов, состоящего из схемы формирования импульсов и передающего оптического модуля;
Рефлектометр состоит из следующих основных узлов:
Структурная схема прибора представлена на рисунке 1.
Предлагаемое устройство диагностики представляет собой рефлектометр, предназначенный для измерения расстояния до места расположения локальных неоднородностей волоконно-оптического тракта и отраженной оптической мощности. Рефлектометр реализует частотно-импульсный метод измерения.
Для практического использования необходим прибор, позволяющий с высокой точностью определить место расположения неоднородностей в тракте передачи и при этом имеющий низкую стоимость.
В настоящее время серийно выпускается большая номенклатура OTDR рефлектометров. Рефлектометры имеют широкие сервисные возможности, однако высокая стоимость ограничивает область их применения.
Изобретение относится к области измерительной техники, техники связи и опто-электроники и может быть использовано в электротехнической промышленности, промышленности средств связи при производстве оптических волокон и волоконно-оптических кабелей, а также при прокладывании и эксплуатации волоконно-оптических трактов.
Авторы: Яковлев М.Я., Цуканов В.Н.
Патент России 2214583 от 20.10.2003 г. (G 01 M 11/02)
Оптический рефлектометр
Оптический рефлектометр
Комментариев нет:
Отправить комментарий